Разработан специально для удобных интерферометрических измерений в промышленности, научных исследованиях и национальной обороне. Высокое разрешение 300×300 (90 000) фазовых точек, широкий спектральный отклик 400–1100 нм, 10 кадров трехмерного отображения результатов в реальном времени с полным разрешением, что обеспечивает идеальный инструмент измерения волнового фронта для обнаружения волнового фронта лазерного луча, адаптивную оптику, оптическую систему калибровка, обнаружение оптического окна, форма оптической плоской поверхности, измерение формы сферической поверхности, шероховатость поверхности, обнаружение микроконтура поверхности и т. д.
Четырехволновой интерферометрический датчик FIS4 HR высокого разрешенияиспользует запатентованную технологию четырехволновой дифракции со случайным кодированием для достижения одноканальной измеренной самоинтерференции волнового фронта, причем интерференция возникает в положении плоскости заднего изображения. Он имеет низкие требования к когерентности источника света, не требует фазового сдвига и может выполнять интерферометрические измерения с использованием обычной системы визуализации. Он обладает сверхвысокой вибростойкостью и сверхвысокой стабильностью и может достигать точности измерений на уровне нм без виброизоляции. По сравнению с датчиком Хартмана с матрицей микролинз он имеет больше фазовых точек с высоким разрешением, более широкий диапазон адаптивной полосы, больший динамический диапазон и более низкую стоимость.
Основные особенности
◆ Высокое разрешение 300×300 (90 000) фазовых точек.
◆ Самоинтерференция однолучевого света, опорное зеркало не требуется.
◆ Широкий спектр 400–1100 нм.
◆ Среднеквадратичное разрешение с высоким фазовым разрешением 2 нм
◆ Чрезвычайно высокая вибростойкость, нет необходимости в оптической виброизоляции.
◆ Простое и быстрое построение интерференционного светового пути.
◆ Поддержка коллимированных лучей и сходящихся лучей большой нейтральной ориентации.
Применение продукта
Обнаружение волнового фронта лазерного луча, адаптивная оптика, измерение плоской поверхности, калибровка оптической системы, обнаружение оптического окна, оптическая плоскость, измерение сферической поверхности, обнаружение шероховатости поверхности.
