Новости

Сверхвысокое разрешение 512×512 (262144) фазовых точек, обеспечивающее высокоточное измерение волнового фронта в диапазоне от 900 до 1200 нм, которое можно использовать для измерения аберраций оптической системы, калибровки оптической системы, измерения распределения внутренней решетки материала, метаповерхности, суперлинзы. измерение волнового фронта и т. д.

Специально разработанный для анализа волнового фронта в высокоскоростных промышленных, оборонных и научных исследованиях, таких как летающие выстрелы и поля потока, он имеет сверхвысокое разрешение 420×420 (176 400) фазовых точек, широкий спектр отклика 400–1100 нм, и 107 кадров высокоскоростной выборки, что обеспечивает идеальный инструмент измерения волнового фронта для определения шероховатости поверхности пластин, измерения микроморфологии кремниевых и стеклянных подложек, аэродинамическая оптика, поле высокоскоростных течений, измерение плотности газовой плазмы и др.

Разработанное для содействия научным исследованиям и высокоточным промышленным сценариям, более высокое разрешение может предоставить более подробную информацию при обнаружении волнового фронта, сверхвысокое разрешение 512×512 (262144) фазовых точек, широкий спектр 400–1100 нм, 10 кадров полного спектра. Трехмерное отображение результатов в режиме реального времени с разрешением, предоставляющее идеальные инструменты измерения волнового фронта для обнаружения волнового фронта лазерного луча, адаптивной оптики, измерения плоской поверхности, калибровки оптической системы, оптического обнаружение окон, оптическое измерение сферической поверхности, обнаружение шероховатости поверхности, микроконтур поверхности и т. д.

Разработан специально для удобных интерферометрических измерений в промышленности, научных исследованиях и национальной обороне. Высокое разрешение 300×300 (90 000) фазовых точек, широкий спектральный отклик 400–1100 нм, 10 кадров трехмерного отображения результатов в реальном времени с полным разрешением, что обеспечивает идеальный инструмент измерения волнового фронта для обнаружения волнового фронта лазерного луча, адаптивную оптику, оптическую систему калибровка, обнаружение оптического окна, форма оптической плоской поверхности, измерение формы сферической поверхности, шероховатость поверхности, обнаружение микроконтура поверхности и т. д.